Wskaźnik typu przewodnictwa elektrycznego materiałów półprzewodnikowych
| dc.contributor.author | Wróbel, Zygmunt | pl_PL |
| dc.contributor.author | Griniewa, L.I. | pl_PL |
| dc.date.accessioned | 2019-06-17T09:35:01Z | |
| dc.date.available | 2019-06-17T09:35:01Z | |
| dc.date.issued | 1984 | |
| dc.identifier.citation | Rocznik Naukowo-Dydaktyczny. 1984, Z. 91, Prace Fizyczne 4, s. 215-219 | pl_PL |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11716/5228 | |
| dc.description.abstract | Operation principle of a tester for measuring type of a semiconductor (n or p). Main design features and parameters of the tester are detailed. | en_EN |
| dc.language.iso | pl | pl_PL |
| dc.title | Wskaźnik typu przewodnictwa elektrycznego materiałów półprzewodnikowych | pl_PL |
| dc.type | Article | pl_PL |